30688
Book
In basket
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak - Wydanie I, dodruk 1. - Warszawa : PWN, copyright 2023. - [2] karty tablic, 436 stron : fotografie, ilustracje, wykresy ; 24 cm.
Author
Adamczak Stanisław (1948- ) Autor
Form of Work
Książki Publikacje dydaktyczne Publikacje fachowe Publikacje naukowe
Audience Group
Szkoły wyższe Inżynierowie
Subject
Części maszyn Metrologia wielkości geometrycznych Struktura geometryczna powierzchni Przyrządy pomiarowe Pomiary Metrologia
Genre/Form
Podręcznik
Domain
Inżynieria i technika
zob. w.bibliotece.pl
Availability:
Wypożyczalnia
There are copies available to loan: sygn. 44461 (1 egz.)
Notes:
General note
W obrębie wydania dodruk 2023.
Bibliography, etc. note
Bibliografia, wykaz norm na stronach 420-432.
Target audience note
Dla metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowgo czy specjalistów projektowania przemysłowego, studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inzynieria medyczna czy logistyka.
Additional physical form available note
Książka dostępna także jako e-book.
Reviews:
Confirm report execution
Also derive:
shelf marks
IDs
subject headings
location
summary
ISBN number
sort key
adres wersji elektronicznej
copies localization
opis fizyczny
Report sorting:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
The item has been added to the basket. If you don't know what the basket is for, click here for details.
Do not show it again