30688
Książka
W koszyku
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak - Wydanie I, dodruk 1. - Warszawa : PWN, copyright 2023. - [2] karty tablic, 436 stron : fotografie, ilustracje, wykresy ; 24 cm.
Autor
Adamczak Stanisław (1948- ) Autor
Forma i typ
Książki Publikacje dydaktyczne Publikacje fachowe Publikacje naukowe
Odbiorca
Szkoły wyższe Inżynierowie
Temat
Części maszyn Metrologia wielkości geometrycznych Struktura geometryczna powierzchni Przyrządy pomiarowe Pomiary Metrologia
Gatunek
Podręcznik
Dziedzina i ujęcie
Inżynieria i technika
zob. w.bibliotece.pl
Status dostępności:
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 44461 (1 egz.)
Strefa uwag:
Uwaga ogólna
W obrębie wydania dodruk 2023.
Uwaga dotycząca bibliografii
Bibliografia, wykaz norm na stronach 420-432.
Uwaga dotycząca przeznaczenia czytelniczego
Dla metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowgo czy specjalistów projektowania przemysłowego, studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inzynieria medyczna czy logistyka.
Uwaga dotycząca innej dostępnej postaci fizycznej
Książka dostępna także jako e-book.
Recenzje:
Potwierdź wykonanie raportu
Wyprowadzać dodatkowo:
sygnatury
identyfikatory
hasła przedmiotowe
lokalizacja
streszczenia
numer ISBN
hasło sortowania
adres wersji elektronicznej
rozmieszczenie egzemplarzy
opis fizyczny
Sortowanie zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej